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日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz,LCR测试仪IM3536的测量频率很广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,可以任意改变测试频率进行测试。

更新时间:2019-06-24

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日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536系列产品详细信息

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536系列概述

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz,LCR测试仪IM3536的测量频率很广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,可以任意改变测试频率进行测试。

 

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536系列特点

● 测量频率DC,4Hz~8MHz

● 测量时间:樶快1ms

● 基本精度:±0.05% rdg

● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量

● 可内部发生DC偏压测量

● 从研发到生产线活跃在各种领域中

 

日本日置HIOKI LCR测试仪IM3536系列规格表

测量模式

LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

测量参数

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

测量量程

100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)

显示范围

Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

基本精度

Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)

测量频率

4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

测量信号电平

[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (樶大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (樶大10 mA)

[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (樶大100 mA)

[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (樶大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (樶大1 V)

[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (樶大1 V)

[直流电阻测量]: 1 V固定

DC偏压

发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

输出阻抗

通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,触摸屏

功能

比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

接口

EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

电源

AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max

体积及重量

330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg

附件

电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

 

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